Process and device modeling for integrated circuit design edited by Fernand van de Wiele, Walter L. Engl, Paul G. Jespers
Dil:İngilizce Seri kaydı: NATO Advanced Study Institutes series. Series E : Applied sciences ; no. 21Yayın ayrıntıları: Leyden Noordhoff 1977Fiziksel Tanımlama: 867 s. 24 cmISBN: 90-286-0667-XKonu(lar): Integrated circuits -- Design and construction -- Simulation methods -- CongressesDDC sınıflandırma: 621.3815 NAT 1977| Materyal türü | Geçerli Kütüphane | Ana kütüphane | Koleksiyon | Yer numarası | Cilt bilgileri | Kopya numarası | Durum | İade tarihi | Barkod |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Seriler
|
Seriler | NÜKEN İstanbul Kütüphanesi | Seriler | 621.3815 NAT 1977 (Rafa gözatın(Aşağıda açılır)) | 21 | 1 | Kullanılabilir | N1252 |
Taranıyor NÜKEN İstanbul Kütüphanesi raflar, Raf Konumu: Seriler, Koleksiyon: Seriler Raf tarayıcısını kapatın(Raf tarayıcısını kapatır)
| Kullanılabilir kapak resmi yok | ||||||||
| 621.3673 SAF 1974 Safe use of radioactive tracers in industrial processes | 621.3692 NAT 1979 Fiber and integrated optics | 621.38 NAT 1978 Communication systems and random process theory | 621.3815 NAT 1977 Process and device modeling for integrated circuit design | 621.38152 NAT 1975 Progress in electro-optics reviews of recent developments | 621.38152 NAT 1976 Solid state imaging | 621.38152 NAT 1979 Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices |
"Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Process and device modeling for integrated circuit design, Louvain-la-Neuve, Belgium, July 19-29, 1977."
Kaynakça var.
Bu materyal hakkında henüz bir yorum yapılmamış.