X-Işın floresans analizinde öz ve matris soğurma etkilerinin ince film ve damla teknikleriyle araştırılması [prep.] Ali Nezihi Bilge
Dil:Türkçe Yayın ayrıntıları: İstanbul Atom Enerjisi Komisyonu ÇNAEM 1982Fiziksel Tanımlama: 86 p. 28 cmRapor no: ÇNAEM-R-201Konu(lar): X-raysDDC sınıflandırma: 539.7222 XIŞ 1982Materyal türü | Geçerli Kütüphane | Ana kütüphane | Koleksiyon | Yer numarası | Cilt bilgileri | Kopya numarası | Durum | İade tarihi | Barkod |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Raporlar | Raporlar | TENMAK Kütüphanesi | Raporlar | 539.7222 XIŞ 1982 (Rafa gözatın(Aşağıda açılır)) | 1 | 1 | Kullanılabilir | T7911 | |
Raporlar | Raporlar | TENMAK Kütüphanesi | Raporlar | 539.7222 XIŞ 1982 (Rafa gözatın(Aşağıda açılır)) | 1 | 2 | Kullanılabilir | T7913 |
Taranıyor TENMAK Kütüphanesi raflar, Raf Konumu: Raporlar, Koleksiyon: Raporlar Raf tarayıcısını kapatın(Raf tarayıcısını kapatır)
Includes bibliographic references
Bu materyal hakkında henüz bir yorum yapılmamış.