Ayrıntılar: Metal film thickness measuring unit (micron meter)

Image from Google Jackets

Metal film thickness measuring unit (micron meter) [prep.] D. R. Cockbaine

Katkıda bulunan(lar): Cockbaine, D. R | T.C. Atom Enerjisi Komisyonu Ankara Nükleer Araştırma MerkeziDil:İngilizce Yayın ayrıntıları: Ankara Atom Enerjisi Komisyonu Ankara Nükleer Araştırma Merkezi 1970Fiziksel Tanımlama: 15 p. ill. 28 cmRapor no: Teknik Rapor : E-1-70Konu(lar): Thin filmsDDC sınıflandırma: 530.4175 MET 1970

Mevcut
Materyal türü	Geçerli Kütüphane	Ana kütüphane	Koleksiyon	Yer numarası	Cilt bilgileri	Kopya numarası	Durum	İade tarihi	Barkod
Raporlar	Raporlar	TENMAK Kütüphanesi	Raporlar	530.4175 MET 1970 (Rafa gözatın(Aşağıda açılır))	1	1	Kullanılabilir		T8513
Raporlar	Raporlar	TENMAK Kütüphanesi	Raporlar	530.4175 MET 1970 (Rafa gözatın(Aşağıda açılır))	1	2	Kullanılabilir		T8514

Önceki	Kullanılabilir kapak resmi yok	Kullanılabilir kapak resmi yok	Kullanılabilir kapak resmi yok	Kullanılabilir kapak resmi yok	Kullanılabilir kapak resmi yok	Kullanılabilir kapak resmi yok	Kullanılabilir kapak resmi yok	Sonraki
Önceki	530.4175 BİR 1974 Metallic aluminum particle concentration in aluminum oxide thin films	530.4175 BİR 1974 Metallic aluminum particle concentration in aluminum oxide thin films	530.4175 INC 1973 A1 - A12O3 - A1 ince filmlerinde tünel olayı	530.4175 MET 1970 Metal film thickness measuring unit (micron meter)	530.4175 MET 1970 Metal film thickness measuring unit (micron meter)	530.4275 CDS 1973 Cds filmlerde SCL akımları (uzay yükü ile sınırlı akımlar) ve tuzak yoğunluklarının tayini	530.4275 POL 1972 Polystyrene ince filmlerde SCLC (Space - charge - limited current ) ile tuzak yoğunluğunun tayini	Sonraki

Bu materyal hakkında henüz bir yorum yapılmamış.

bir yorum göndermek için.