Aramanızda 2 sonuç bulundu.

Sonuçlar
		Kullanılabilir kapak resmi yok Tahribatsız testle ilgili üretim işlemleri ve hataların oluş nedenleri [prep.] Şinasi Ekinci Yazar: Ekinci, Şinasi \| Türkiye Atom Enerjisi Kurumu Çekmece Nükleer Araştırma ve Eğitim Merkezi. Dil:Türkçe Yayın Ayrıntıları: İstanbul TAEK ÇNAEM 1992Kullanılabilirlik: Ödünç verilebilen materyaller: TENMAK Kütüphanesi (3). Kütüphanede Nerede: Raporlar Yer numarası:620.1127 TAH 1992 t. Ayırt
		Kullanılabilir kapak resmi yok Tahribatsız test: malzeme süreksizlikleri [prep.] A. F. Akgün, A. Yıldırım, N. Baş. Yazar: Akgün, A. F \| Baş, N \| Yıldırım, A \| Türkiye Atom Enerjisi Kurumu Çekmece Nükleer Araştırma ve Eğitim Merkezi. Dil:Türkçe Yayın Ayrıntıları: İstanbul TAEK ÇNAEM 1992Kullanılabilirlik: Ödünç verilebilen materyaller: TENMAK Kütüphanesi (3). Kütüphanede Nerede: Raporlar Yer numarası:620.1127 TAH 1992 ms. Ayırt

Taramanızı gözden geçirin