MOS (Metal - Oxide - Semiconductor) yapısında Nss yüzey enerji Durumları yoğunluğunun x-ışınları ile değişimi [prep.] R. Ellialtıoğlu, O. Sencer, U. Büget
Dil:Türkçe Yayın ayrıntıları: Ankara Atom Enerjisi Komisyonu 1973Fiziksel Tanımlama: 4 p. ill. 28 cmRapor no: Teknik Rapor : KF-4-73Konu(lar): X-raysDDC sınıflandırma: 539.7222 MOS 1973| Materyal türü | Geçerli Kütüphane | Ana kütüphane | Koleksiyon | Yer numarası | Cilt bilgileri | Kopya numarası | Durum | İade tarihi | Barkod |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Raporlar
|
Raporlar | TENMAK Kütüphanesi | Raporlar | 539.7222 MOS 1973 (Rafa gözatın(Aşağıda açılır)) | 1 | 1 | Kullanılabilir | T8507 | |
|
Raporlar
|
Raporlar | TENMAK Kütüphanesi | Raporlar | 539.7222 MOS 1973 (Rafa gözatın(Aşağıda açılır)) | 1 | 2 | Kullanılabilir | T8508 |
Bu materyal hakkında henüz bir yorum yapılmamış.